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一、局放測試儀說明
部分放電，當(dāng)外加電壓在電氣設(shè)備中發(fā)生的場強，足以使絕緣部分區(qū)域發(fā)生放電，但在放電區(qū)域內(nèi)未構(gòu)成固定放電通道的這種放電現(xiàn)象，稱為部分放電。
二、局放測試儀部分放電簡介
部分放電現(xiàn)象，首要指的是高壓電氣設(shè)備。
電力設(shè)備絕緣在滿意強的電場作用下部分范圍內(nèi)發(fā)生的放電。這種放電以僅構(gòu)成導(dǎo)體間的絕緣部分短（路橋）接而不構(gòu)成導(dǎo)電通道為限。每一次部分放電對絕緣介質(zhì)都會有一些影響，纖細的部分放電對電力設(shè)備絕緣的影響較小，絕緣強度的下降較慢；而激烈的部分放電，則會使絕緣強度很快下降。這是使高壓電力設(shè)備絕緣損壞的一個重要因素。因此，規(guī)劃高壓電力設(shè)備絕緣時，要考慮在長期作業(yè)電壓的作用下，不允許絕緣結(jié)構(gòu)內(nèi)發(fā)生較激烈的部分放電。對工作中的設(shè)備要加強監(jiān)測，當(dāng)部分放電超越必定程度時，應(yīng)將設(shè)備退出工作，進行檢修或替換。
三、局放測試儀部分放電對電力設(shè)備的影響
當(dāng)絕緣發(fā)生部分放電時就會影響絕緣壽數(shù)。每次放電，高能量電子或加速電子的沖擊，特別是長期部分放電作用都會引起多種形式的物理效應(yīng)和化學(xué)反應(yīng)，如帶電質(zhì)點碰擊氣泡外壁時，就可能打斷絕緣的化學(xué)鍵而發(fā)生裂解，損壞絕緣的分子結(jié)構(gòu)，構(gòu)成絕緣劣化，加速絕緣損壞進程。
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